Для цитирования:

Семенов М.Б., Кревчик В.Д., Филатов Д.О., Антонов Д.А., Шорохов А.В., Шкуринов А.П., Ожередов И.А., Кревчик П.В., Разумов А.В., Котов А.С., Антонов И.С., Семенов И.М. Особенности туннельных вольт-амперных характеристик в диэлектрических пленках с наночастицами Ni, Fe и Co, исследованные методом проводящей атомной силовой микроскопии (АСМ) и в рамках теории 1D - диссипативного туннелирования. Наносистемы: физика, химия, математика. 2022;13(6):621-627. https://doi.org/10.17586/2220-8054-2022-13-6-621-627

For citation:

Semenov M.B., Krevchik V.D., Filatov D.O., Antonov D.A., Shorokhov A.V., Shkurinov A.P., Ozheredov I.A., Krevchik P.V., Razumov A.V., Kotov A.S., Antonov I.S., Semenov I.M. Features of tunneling current-voltage characteristics in dielectric films with Ni, Fe and Co nanoparticles, investigated by conductive AFM and within the framework of the theory of 1D-dissipative tunneling. Nanosystems: Physics, Chemistry, Mathematics. 2022;13(6):621-627. https://doi.org/10.17586/2220-8054-2022-13-6-621-627